產品詳情
簡單介紹：
四探針測試儀是根據單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M 標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測試專用儀器。
儀器以大規模集成電路為核心部件，采用旋扭式開關控制，及各種工作狀態LED指示。應用微計算機技術，使得測量讀數更加直觀、快速。整套儀器體積小、功耗低、測量精度高、測試速度快、穩定性好、易操作。
詳情介紹：
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詳細參數
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探頭
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Sx系列四探針探頭是采用綜合性能優異的高分子材料、耐磨和硬度高的探針研制的測量數據穩定、可靠、準確度高、耐用性能好四探針探頭。所有技術指標符合國家標準，同時符合ASTM標準有關規定。 | |||||||||||||||||
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間距：1±0.01mm； 針間絕緣電阻≥1000MΩ； 機械游移率:≤1.0%；
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探針壓力：TZT-9A/9B: 12-16牛頓（總力） TZT-9C/9D 5-8 牛頓（總力）
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